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更多“在使用金相显微镜时，若视场明亮，则使用的观察方法是()。”相关的问题
A.上芯顶针痕迹检查频次为1次/批
B.在100X显微镜下检查顶针痕迹时，如果顶针痕迹不清晰，未造成明显的不良，则判定为合格
C.MOSFET产品在100X显微镜下检查时，如有顶针印记，则判断为不良
D.在监控顶针痕迹时，必须使用设备的pickdie功能从晶圆上吸取芯片做样品监控，不允许使用镊子从兰膜上直接夹取
在检查培养的细胞生长状况时，通常使用的显微镜是
A、普通光学显微镜
B、暗视野显微镜
C、倒置显微镜
D、相位差显微镜
E、电子显微镜
在使用显微镜时，如果目镜是10倍，物镜是45倍，那么显微镜放大的倍为数()。
A.10倍
B.45倍
C.55倍
D.450倍
在使用显微镜时，如果目镜是10倍，物镜是45倍，寻么显微镜放大的伴倍数为()。
A.10倍
B.45倍
C.55倍
D.450倍
